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用于测试柔性材料导电薄膜、PE膜、电容卷积膜、金属箔、金属涂层

2025年04月08日 22:20 来源:北京中慧天诚科技有限公司
四探针电阻率测定仪(方块电阻测试仪、方阻测定仪)可根据不同材料的要求选择测试探头;碳化钨探针探头用于测试硅类半导体、石墨烯、热敏材料、金属、导电塑料等硬质材料的电阻率和方阻;镀金铜合金探针探头用于测试柔性材料导电薄膜、PE膜、电容卷积膜、金属箔、金属涂层或者碳纸、薄膜、陶瓷、玻璃基底上导电膜(ITO膜)、锂电池电池电极片、氢燃料电池电极片或纳米涂层等半导体材料的电阻率和方阻。仪器适用于半导体材料厂、高校和科研对导体、半导体材料导电性能的测量。
规格参数:
测量范围
              电阻率:10µΩ・cm~200kΩ・cm
              方块电阻:50µΩ/□~1MΩ/□
              模拟电阻:10µΩ~200kΩ
测量精度
              电阻率:4%
              方块电阻:4%
              模拟电阻:0.1%
测量速度:10次/秒、5次/秒、2次/秒
触发方式:内部、手动、外部
测量精度:0.5%
数据接口:RC 232C
环境温度:0-45℃
相对湿度:≤95%RH

方阻仪_四探针电阻率测试仪

型号:DZF-510


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