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日本原装TOPCON拓普康近红外光谱仪SR-NIR
日本原装TOPCON拓普康近红外光谱仪SR-NIR
在这种情况下，我们在SR系列分光辐射度计的技术基础上开发了“近红外分光辐射度计SR-NIR”。
通过将该产品与SR系列光谱辐射计结合使用，现在可以测量380nm至1030nm的光谱辐射亮度。
ð 能够测量 FPD 微弱发射的近红外区域
ð 高精度测量近红外区域（600 至 1030 nm）的光谱分布 ð
与我们的分光辐射度计 SR 系列结合使用时，可从可见光到近红外区域测量外部光谱分布（380-1030nm）
观测各种FPD的近红外输出
ð 观测Ne和Ar的发射线输出
ð 评估光学薄膜等的近红外传输特性 ð
其它光源的近红外光谱测量
| 光电探测器 | 电子冷却线性阵列传感器 |
|---|---|
| 波长色散元件 | 衍射光栅 |
| 光学系统 | 物镜：f=82mm F2.5，目镜：观察视场5° |
| 测量角度 | 2°/1°/0.2°/0.1° 电动切换型 |
| 最小测量直径（mmφ） | 2°: 10.0, 1°: 4.99, 0.2°: 1.00, 0.1°: 0.50 |
| 测量距离 | 350mm~∞（距物镜硬件的距离） |
| 测量波长范围 | 600～1030nm |
| 光谱波长宽度 | 6-8nm（半宽） |
| 波长分辨率 | 1纳米 |
| 测量模式 | 自动/手动（存储时间/频率）、外部垂直同步信号输入 |
| 测量细节 | 光谱辐射亮度：W･sr -1･m -2･nm -1 |
| 测量范围（*1） | 2°：0.5～3,000 cd/m 2 1°：1～9,000 cd/m 2 0.2°：20～70,000 cd/m 2 0.1°：100～300,000 cd/m 2 |
| 重复性(*2) | ±2%以内 |
| 偏振特性 | 光谱辐射率5%以下 |
| 校准标准 | 我们的校准标准 *标准 A 光，23℃±3℃，65% RH 以下 |
| 测量时间（*3） | 约 1 至 31 秒 |
| 界面 | RS-232C、USB 2.0 |
| 电源 | 专用交流适配器AC100~240V (50/60Hz) |
| 功耗 | 约36W |
| 使用条款 | 温度：5～35℃，湿度：80%RH以下，无凝结 |
| 外形尺寸（宽×深×高） | 150×406×239毫米 |
| 大量的 | 约5.5公斤 |
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