中崎新品发布-​日本USHIO 牛尾 紫外照度探头受光器 UVD-365PD

中崎新品发布-日本USHIO 牛尾 紫外照度探头受光器 UVD-365PD

近期，我司发布新品日本USHIO 牛尾 紫外照度探头受光器 UVD-365PD。日本 USHIO 牛尾 UVD-365PD 分体式紫外受光探头，属于 UNIMETER 系列测光传感器，中心校准波长 365nm，感应波段 330~390nm。该探头不可独立使用，需搭配 UIT-201、UIT-250 紫外照度计主机。配备 φ1mm 微小感光孔径，内置窄带滤光组件，可有效过滤可见光杂散光，精准测量小光斑、点光源紫外辐照度。出厂附带原厂绝对值校准，测量精度稳定，标配 2 米信号线缆，可伸入狭小腔体、曝光箱内部采集数据，是 i-line 光刻、UV 固化工艺的标准监测探头，广泛用于半导体、光学检测、精密 UV 工艺质量管控。

产品规格

• 品牌：USHIO 牛尾（日本）

• 型号：UVD-365PD

• 产品类型：紫外照度探头 / 受光器

• 感度波长范围：330~390nm

• 基准校准波长：365nm（UVA i 线）

• 受光孔径：φ1 mm

• 校准精度：±5%

• 非线性误差：≤±1%

• 温度依存特性：-0.2%/℃

• 工作温度：0℃ ~ 50℃（探头本体，无凝露）

• 适配主机：UIT-201、UIT-250

• 测量量程（搭配 UIT-201）：L 档：0~19.99 mW/cm²M 档：0~199.9 mW/cm²H 档：0~500 mW/cm²

• 标配线缆：2m 专用信号线，支持延长选配

• 传感器类型：硅光电池

• 光学结构：内置窄带干涉滤光片

• 测量角度特性：±30° 内响应稳定

产品特点

• φ1mm 极小受光口径，空间分辨率高，专门测量小光斑、窄光束

• 365nm 中心校准，窄带滤光设计，抑制可见光与红外杂光干扰

• 原厂溯源绝对值校准，出厂附带校准参数，直接匹配主机 CAL 值

• 低非线性，≤±1%，高低照度区间测量一致性好

• 分体式长线缆设计，探头进腔体，主机在外操作，操作安全便捷

• 专用连接器，接入 UIT 系列主机可自动识别校准系数

• 体积小巧，方便工装固定，适配狭小空间点位检测

• 适配高压汞灯、365nm UV LED 等各类 UVA 点光源

• 稳定的角度响应，小角度倾斜工况下测量波动小

• 工业级传感元件，适合产线长期重复性检测

产品优势

• 微小感光面是普通大口径探头无法替代，可精准测量 UV 点光源中心照度

• 滤光性能优异，减少杂光带来的读数虚高，保证工艺数据真实可靠

• 原厂整套标定，无需客户二次校准，开箱即可上机使用

• 分体式结构，保护主机不受紫外、高温环境影响，延长主机寿命

• 探头更换简单，同系列可切换 UVD-405PD，一台主机测不同 UV 波段

• 测量数据重复性佳，用于 UV 固化、光刻产线做工艺监控与品质追溯

• 信号线缆抗干扰，工业车间环境下信号传输稳定

• 长期稳定性好，漂移小，减少频繁复检校准成本

• 行业标准传感器，半导体、光学实验室通用，数据可跨设备比对

• 适配自动化工装集成，可固定在产线工位做在线抽检

应用场景

半导体 i-line 光刻曝光工艺监测、UV 胶水固化工艺检测、点光源 UV LED 照度测试、高压汞灯光源标定、光学实验室紫外光谱测试、PCB 曝光设备检测、微流控紫外固化、精密光学器件辐照测试、UV 清洗设备照度监控、科研紫外实验测量、光学工装光斑分布检测。

日本 USHIO 牛尾 UVD-365PD 紫外受光探头，中心波长 365nm，φ1mm 微小感光孔径，窄带滤光抑制杂散光，原厂校准。配套 UIT-201/UIT-250 照度主机，用于小光斑 UVA 辐照度测量，多用于半导体光刻、UV 固化、光学实验室等精密紫外工艺检测，欢迎咨询！