国家半导体技术研究部选用EL172紫外辐照计用于材料研究

近日，由我司提供的EL172nm准分子紫外辐照计探头顺利完成交付，并成功应用于一项半导体领域科研项目。这是该新品探头自推出以来，进入课题的测量体系，标志着其在深紫外精准测量领域的专业能力获得科研用户的认可。

本次采购方为某半导体技术研究部，正承担国家重点课题《海洋动力装备热端部件防护涂层的高温减摩耐磨设计及结构功能一体化控制》。该课题聚焦海洋装备热端部件在高温、高盐雾、强摩擦环境下的涂层性能研究，需精准量化172nm准分子紫外对涂层的影响。由于传统紫外辐照计难以覆盖深紫外波段（165-340nm）的测量需求，课题组在经过多方技术比对后，最终选择了我司提供的EL172nm专用探头。

从实验室研发到课题落地，EL172nm准分子探头以实力证明国产光学仪器的科研价值。该产品专为172nm准分子灯优化，波段覆盖165-340nm，能够精准捕捉深紫外光子信号；采用特殊光学滤镜，有效屏蔽可见光及红外杂散光干扰，并具备宽温补偿能力（-20℃~120℃），可适应半导体清晰、光刻等高温环境。同时，产品误差控制在±3%以内，支持CNAS可溯源校准，确保测量数据可靠性。

作为SinABC在中国大陆地区的正式合作伙伴，我们始终致力于将紫外测量技术与本土研发生产相结合，为客户提供更可靠、更专业、响应更快的光学测量解决方案。未来，我们将持续聚焦深紫外与特种波段测量技术，深耕半导体、海洋工程、材料改性等领域，助力科研创新与产业升级。

如果您也对SinEL172紫外辐照计感兴趣，或是有类似的测量需求，欢迎随时联系我们。我们期待与您一起，探索更多可能！